产品特点
KNW-S5585B 3D面阵相机
大视野与微米级精度兼得 此款相机在KNW产品矩阵中，属于大视野的测量技术范围。基于3D结构光，实现了微米级的高精度检测的工业相机，精度盖几个微米到几百微米，700*585mm视野范围。产品可实现超高速面扫模式，一次性输出全视野范围三维点云，支持所有部位同时测量。全视野同步测量与分析
点云数据完整覆盖整个测量区域，支持视野内所有特征的同步三维测量与分析，适用于多位置、多尺寸参数的并行化检测流程。
出色的复杂表面适应性
通过高能量蓝光光源与智能曝光控制，能够有效克服环境光干扰，并对高反光、深色及复合材质表面实现稳定、完整的三维重建。
技术参数
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